レーザー式欠陥検査装置　LD-01 更新情報 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　安全性や環境に配慮した製品が求められる中で 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　さらなる高度な品質基準をめざす時代になりました。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　LD-01は、従来のCCDでは検出が困難な欠陥に 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　有効なソリューションを提供します。 　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 　　 　　ＬＤ−０１は半導体レーザーを応用した表面欠陥検査装置です。 　　１５μm以上の異物・傷などの欠陥を３００mm幅で 　　高速スキャンして検出します。 　　ガラス・フィルム・金属などの素材に対応し 　　今後の新素材についても大きな可能性が期待できます。 　　システムクリエイトは企画・テスト・導入までサポートし 　　品質上の問題を解決します。 特徴　光源が必要なし・セッティングが容易です 性能　15μmの欠陥を高速スキャン・検出 原理　フライングスポット方式・透過/反射/散乱　3方式可能 トピックス 　　 　　　 　　　　 　　　・三重県産業支援センター主催 　　　　平成19年度　 　　　　「経営改革実践企業/ 　　　　　　　市場展開チャレンジ事業」 　　　　に選定されました。 　　　　　 　　 ・ビジネスフェア２００７は無事終了しました。 　　　ご協力いただいた方、ブースに立ち寄って 　　　いただいた方、ありがとうございました。 　　 エンジニアの派遣情報についてのおといあわせ＞＞＞＞＞＞＞＞ ＜LD-01技術情報掲載中＞ 　　コーティング技術などの総合情報誌 　　「コンバーテック」にLD-01の記事が 　　掲載されています。 　　---内容--- 　　概要・原理・特徴・最新の適用事例etc